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產(chǎn)品中心您當前的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 檢測 > 監(jiān)測 > MICP-KZ10A、MICP-KZ20A顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀
基礎信息Product information
產(chǎn)品名稱：
顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀
產(chǎn)品型號：MICP-KZ10A、MICP-KZ20A
廠商性質：經(jīng)銷商
所在地：重慶市
更新時間：2023-10-20
產(chǎn)品簡介：
顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀由腦電極、電極針、眼罩、分析儀主機、液晶顯示屏和分析儀軟件組成。適用于顱腦外傷、腦積水、腦出血、腦膜炎等神經(jīng)系統(tǒng)疾病引起顱內(nèi)壓增高的輔助檢測。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 上海聚慕 |
|---|
顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀是一種利用FVEP的原理反映顱內(nèi)壓改變的儀器。
產(chǎn)品資料
無創(chuàng)顱內(nèi)壓監(jiān)測儀
閃光視覺誘發(fā)電位是臨床理論研究早期、最完善的一種皮層誘發(fā)電位。它是由彌散的非模式的閃光對視網(wǎng)膜刺激所引起的大腦皮層(枕葉)的電位變化。FVEP反映了從視網(wǎng)膜到枕葉皮視覺通路的完整性。視覺通路位于腦底部，視神經(jīng)纖維向前向后貫穿全腦，自額葉底部穿過頂葉及顳葉到達枕葉，行程較長，所以顱內(nèi)發(fā)生病變時常常會影響視神經(jīng)功能障礙，從視網(wǎng)膜光刺激到大腦枕葉視覺電位的改變，在一定程度上反映了顱內(nèi)的生理病理變化。當顱內(nèi)壓ICP持續(xù)增高時，易產(chǎn)生視通路神經(jīng)損害，神經(jīng)元及纖維缺血缺氧，代謝障礙，神經(jīng)電信號傳導阻滯，閃光視覺誘發(fā)電位波峰潛伏期延長。我們利用FVEP的這一原理來反映顱內(nèi)壓的改變適用范圍
顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀適應癥：該產(chǎn)品適用于顱腦外傷、腦積水等神經(jīng)外科疾病和腦出血、腦膜炎等神經(jīng)內(nèi)科疾病引起顱內(nèi)壓增高的檢測。
患者有下列情況，慎用該產(chǎn)品：（1）垂體瘤壓迫雙側視覺通路者；（2）明顯肝功能損害(腹水、嚴重低蛋白血癥、黃疸)；（3）尿毒癥；（4）嚴重酸中毒；（5）嚴重白內(nèi)障、青光眼、視神經(jīng)；（6）眼球或視神經(jīng)外傷等明顯影響視力者（7）癲癇發(fā)作期。
注意事項：在應用該儀器之前，醫(yī)師應對有關的環(huán)境條件及檢測對象加以控制，盡量保持檢測結果的有效性、準確性和可重復性。另外應注意進行顱內(nèi)壓檢測之前不宜使用麻醉劑和脫水劑。
技術參數(shù)
測試誤差：≤10%
檢測時間：≤1分鐘
重復性：CV≤2%
